鍍層測厚儀優點： 
 
　　1. 測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
　　2. 精度高 ：本公司產品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上**能達到A級的產品,其精度遠高于時代等國內同類.比EPK等進口產品精度也高；
　　3. 穩定性：測量值的穩定性和使用穩定性優于進口產品；
　　4. 功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法
　　覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。  
　　隨著(zhu)技(ji)術的日益進步，特別是(shi)近年(nian)來引入(ru)微(wei)(wei)機技(ji)術后，采用(yong)磁性法和(he)渦(wo)流法的測厚儀(yi)(yi)向(xiang)微(wei)(wei)型(xing)、智能(neng)、多(duo)功能(neng)、高(gao)精度(du)、實用(yong)化的方向(xiang)進了一步。測量的分(fen)辨率已達(da)0.1微(wei)(wei)米，精度(du)可達(da)到1%，有了大(da)幅度(du)的提高(gao)。它適用(yong)范圍廣，量程寬(kuan)、操作簡便且價廉，是(shi)工業和(he)科(ke)研使用(yong)*廣泛的測厚儀(yi)(yi)器。

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