使用(yong)鍍層測(ce)厚(hou)儀(yi)時應當遵守的規定；

　　a 基體金屬特性
　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
　　b 基體金屬厚度
　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
　　c 邊緣效應
　　不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
　　d 曲率
　　不應在試件的彎曲表面上測量。
　　e 讀數次數
　　通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
　　f 表面清潔度
　　測量前，應**表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質
。
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