鍍層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀對材料(liao)表面(mian)保護(hu)、裝(zhuang)飾形成(cheng)(cheng)的(de)(de)覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)進行厚(hou)(hou)度(du)測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)儀器(qi)，測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)對象包括涂層(ceng)(ceng)、鍍層(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)、貼(tie)層(ceng)(ceng)、化(hua)學(xue)生成(cheng)(cheng)膜等（在有關國(guo)(guo)家和(he)國(guo)(guo)際(ji)標(biao)準(zhun)中(zhong)稱(cheng)為(wei)覆層(ceng)(ceng)（coating））。 覆層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度(du)測(ce)量(liang)(liang)已成(cheng)(cheng)為(wei)加工工業、表面(mian)工程(cheng)質量(liang)(liang)檢測(ce)的(de)(de)重要一環，是產(chan)品達到(dao)優(you)等質量(liang)(liang)標(biao)準(zhun)的(de)(de)必備手段(duan)。為(wei)使產(chan)品國(guo)(guo)際(ji)化(hua)，我國(guo)(guo)出口商品和(he)涉外項(xiang)目中(zhong)，對覆層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度(du)有了(le)明確(que)的(de)(de)要求(qiu)。

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     覆層厚度的測量方法(fa)主要有：楔切法(fa)，光截法(fa)，電解法(fa)，厚度差(cha)測量法(fa)，稱重法(fa)，X射線熒光法(fa)，β射線反向散射法(fa)，電容法(fa)、磁性測量法(fa)及(ji)渦流(liu)測量法(fa)等。這些方法(fa)中前五種是有損檢測，測量手(shou)段繁(fan)瑣(suo)，速(su)度慢(man)，多適用(yong)于抽樣檢驗。

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