物(wu)理探傷就是不產生(sheng)化學變化的情況下(xia)進行無損探傷。
一(yi)、什(shen)么是無損(sun)探傷(shang)？
答：無(wu)損(sun)探(tan)傷是在(zai)不損(sun)壞(huai)工件(jian)或原(yuan)材料工作狀態的前提下(xia)，對被檢驗部件(jian)的表面和內部質(zhi)量進行檢查的一種測(ce)試(shi)手段。
二、常用的探傷方法有哪些？
答：常用的無損(sun)探傷方法有：X光射線探傷(shang)(shang)(shang)、超聲波探傷(shang)(shang)(shang)、磁粉探傷(shang)(shang)(shang)、滲(shen)透探傷(shang)(shang)(shang)、渦流探傷(shang)(shang)(shang)、γ射線探(tan)傷(shang)、螢光(guang)探(tan)傷(shang)、著色探(tan)傷(shang)等(deng)方法。
三、試述磁粉(fen)探傷的原理(li)？
答：它的(de)基本(ben)原理(li)是(shi)：當工件磁化時，若工件表(biao)面有缺(que)陷(xian)(xian)(xian)存(cun)在(zai)，由于缺(que)陷(xian)(xian)(xian)處的(de)磁阻(zu)增大(da)而產生漏磁，形(xing)(xing)成局(ju)部(bu)磁場，磁粉便在(zai)此處顯(xian)示(shi)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)形(xing)(xing)狀和(he)位置，從(cong)而判(pan)斷缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)存(cun)在(zai)。
四、試述磁(ci)粉探傷的種類？
1、按(an)工件磁(ci)(ci)化(hua)(hua)方向的不同(tong)，可(ke)分為周向磁(ci)(ci)化(hua)(hua)法、縱向磁(ci)(ci)化(hua)(hua)法、復合磁(ci)(ci)化(hua)(hua)法和旋轉磁(ci)(ci)化(hua)(hua)法。
2、按采(cai)用磁化(hua)電(dian)流(liu)的(de)不同可分為：直流(liu)磁化(hua)法(fa)、半波(bo)直流(liu)磁化(hua)法(fa)、和交流(liu)磁化(hua)法(fa)。
3、按探傷所采(cai)用磁粉的配制不同(tong)，可分(fen)為干粉法和濕粉法。
五、磁粉探傷的缺陷有哪些？
答(da)：磁粉探傷設備簡單、操作容易、檢驗迅速(su)、具有較高(gao)的探傷靈(ling)敏度(du)，可用來發現鐵磁材料鎳(nie)、鈷及其(qi)合金、碳素鋼及某(mou)些合金鋼的表面或近(jin)表面的缺陷；它(ta)適于(yu)薄壁件或焊(han)縫表面裂紋的檢驗，也能(neng)顯(xian)露出一定深度(du)和大小的未焊(han)透缺陷；但難于(yu)發現氣孔、夾碴(cha)及隱藏在(zai)焊(han)縫深處的缺陷。
六、缺(que)陷磁(ci)痕可分為幾類？
答：1、各種工藝性質(zhi)缺陷的磁痕(hen)；
2、材料(liao)夾渣(zha)帶來的(de)發紋(wen)磁痕；
3、夾渣、氣孔帶(dai)來的點狀磁(ci)痕。
七、試述(shu)產生漏磁的原因？
答(da)：由(you)于(yu)鐵磁(ci)性材(cai)料(liao)的(de)磁(ci)率(lv)遠大(da)于(yu)非鐵磁(ci)材(cai)料(liao)的(de)導磁(ci)率(lv)，根據工件(jian)被磁(ci)化后的(de)磁(ci)通密(mi)度B＝μH來分析，在工件(jian)的單位面積上穿過B根(gen)磁線(xian)，而在缺陷區域的單(dan)位面積 上不(bu)能容許B根磁力線通(tong)過，就迫使一部分磁力線擠到(dao)缺陷下面(mian)的(de)(de)材(cai)料里，其它磁力線不得不被迫逸出工(gong)件表面(mian)以外出形成(cheng)漏磁，磁粉將被這樣所引起的(de)(de)漏磁所吸引。
八、試(shi)述(shu)產生漏磁的(de)影響因素？
答：1、缺陷(xian)(xian)的磁(ci)導率(lv)：缺陷(xian)(xian)的磁(ci)導率(lv)越小、則漏磁(ci)越強。
2、磁(ci)(ci)化(hua)磁(ci)(ci)場強度(du)（磁(ci)(ci)化(hua)力(li)）大小(xiao)：磁(ci)(ci)化(hua)力(li)越大、漏磁(ci)(ci)越強。
3、被檢工件(jian)的(de)(de)形狀和尺寸、缺陷的(de)(de)形狀大(da)小(xiao)、埋藏(zang)深度(du)等：當其他(ta)條件(jian)相同時，埋藏(zang)在表(biao)面下深度(du)相同的(de)(de)氣孔(kong)產生的(de)(de)漏磁(ci)要比橫(heng)向裂紋所產生的(de)(de)漏磁(ci)要小(xiao)。
九(jiu)、某些零(ling)件在磁粉探傷后為什么要退磁？
答：某(mou)(mou)些(xie)(xie)轉(zhuan)動(dong)(dong)部件(jian)(jian)(jian)的剩磁將(jiang)會吸引鐵(tie)屑而使(shi)部件(jian)(jian)(jian)在(zai)轉(zhuan)動(dong)(dong)中產(chan)生摩擦(ca)損壞，如軸類軸承等。某(mou)(mou)些(xie)(xie)零件(jian)(jian)(jian)的剩磁將(jiang)會使(shi)附近的儀表(biao)指示失常。因此某(mou)(mou)些(xie)(xie)零件(jian)(jian)(jian)在(zai)磁粉探傷后為(wei)什么要(yao)退(tui)磁處(chu)理。
十、超(chao)聲(sheng)波(bo)探傷的基本原(yuan)理是什么(me)？
答：超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)探傷是利用超聲(sheng)能(neng)透入金(jin)屬材料(liao)的深處(chu)，并由(you)(you)一(yi)截面(mian)(mian)(mian)進入另一(yi)截面(mian)(mian)(mian)時(shi)，在界面(mian)(mian)(mian)邊緣(yuan)發生(sheng)(sheng)反射的特點來(lai)檢查零件缺陷的一(yi)種(zhong)方法，當超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)束自零件表面(mian)(mian)(mian)由(you)(you)探頭通(tong)至金(jin)屬內部，遇到(dao)缺陷與零件底面(mian)(mian)(mian)時(shi)就分別發生(sheng)(sheng)反射波(bo)(bo)(bo)來(lai)，在螢光屏上形成脈沖波(bo)(bo)(bo)形，根據這些脈沖波(bo)(bo)(bo)形來(lai)判斷缺陷位置和(he)大小。
十一、超聲波探(tan)傷與X射線探傷相比較有何優的缺點(dian)？
答：超(chao)聲波(bo)探傷比X射線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)具(ju)有較高的(de)探(tan)(tan)傷(shang)靈(ling)敏(min)度、周(zhou)期短、成(cheng)本(ben)低、靈(ling)活方便、效率高，對(dui)(dui)人體(ti)無害等(deng)優(you)點(dian)；缺點(dian)是對(dui)(dui)工作表面要(yao)求平滑、要(yao)求富有經驗的(de)檢驗人員才能辨別缺陷種類、對(dui)(dui)缺陷沒有直(zhi)觀性；超聲波(bo)探(tan)(tan)傷適合于厚度較大的零件檢驗。
十二、超(chao)聲波探傷的主要特性有哪些？
答(da)：1、超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在介質中傳播時，在不同質界面(mian)上(shang)具有反(fan)射的(de)特性(xing)，如(ru)遇到缺陷(xian)，缺陷(xian)的(de)尺寸等(deng)于或大于超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)波(bo)(bo)(bo)長(chang)時，則(ze)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在缺陷(xian)上(shang)反(fan)射回來，探傷儀可將反(fan)射波(bo)(bo)(bo)顯(xian)示出來；如(ru)缺陷(xian)的(de)尺寸甚至小于波(bo)(bo)(bo)長(chang)時，聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)將繞過射線(xian)而不能反(fan)射；
2、波(bo)聲(sheng)的方(fang)向(xiang)性(xing)好，頻率越高(gao)，方(fang)向(xiang)性(xing)越好，以很窄的波(bo)束(shu)向(xiang)介質中輻射，易(yi)于確定缺陷的位置。
3、超聲(sheng)波的傳播能量大(da)，如頻(pin)率(lv)為1MHZ（100赫茲）的超生波(bo)所傳播的能量，相當于振幅相同而頻(pin)率為(wei)1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。
十三、超生(sheng)波探傷(shang)板(ban)厚14毫米時，距(ju)離波幅(fu)曲線(xian)上三條主要(yao)曲線(xian)的關系怎(zen)樣？
答：測長線 Ф1 х 6 －12dB
定(ding)量(liang)線 Ф1 х 6 －6dB
判(pan)度(du)線(xian) Ф1 х 6 －2dB
十四、何為射線(xian)的(de)“軟”與“硬(ying)”？
答：X射(she)線(xian)穿透物質的(de)(de)能力大小(xiao)和射(she)線(xian)本身的(de)(de)波長有(you)關，波長越(yue)短(duan)（管(guan)電壓越(yue)高），其(qi)穿透能力越(yue)大，稱之為“硬”；反之則(ze)稱為“軟”。
十(shi)五、用超生(sheng)波(bo)探(tan)傷時，底波(bo)消失(shi)可能是什(shen)么原因造成(cheng)的？
答：1、近表(biao)表(biao)大(da)缺陷；2、吸收性缺(que)陷(xian)；3、傾斜大缺陷；4、氧(yang)化皮與鋼(gang)板(ban)結合不好。
十(shi)六、影響(xiang)顯影的主要因素有哪(na)些？
答：1、顯影時間；2、顯影液溫度(du)；3、顯影(ying)液的搖動；4、配方類型(xing)；5、老化程(cheng)度。
十七、什么是電流？
答(da)：電(dian)(dian)流(liu)是指(zhi)電(dian)(dian)子(zi)在一定方向的(de)(de)外力(li)作用下有規則的(de)(de)運動；電(dian)(dian)流(liu)方向，習慣上規定是由電(dian)(dian)源的(de)(de)正(zheng)極經用電(dian)(dian)設備(bei)流(liu)向負極為正(zheng)方向，即與電(dian)(dian)子(zi)的(de)(de)方向相反。
十八、什么是電流強度？
答：電流強(qiang)(qiang)度是單位(wei)時間內通過(guo)導體橫截面的電量，電流有時也(ye)作為(wei)電流強(qiang)(qiang)度的簡稱，可寫成I ＝Q \ T 式中 I 表示為電(dian)流強度Q 為(wei)電量(liang)，T 為時間 。
十九、什么是(shi)電阻(zu)？
答：指電流在導體(ti)內流動所受到的(de)阻力(li)，在相同(tong)的(de)溫度(du)(du)下，長度(du)(du)和截面積都相同(tong)的(de)不同(tong)物質的(de)電阻，差別往往很大(da)；電阻用“R”表示，單位為(wei)歐姆，簡稱歐，以Ω表示(shi)。
二十、什么是電壓？
答：指(zhi)在電(dian)源力的作用下，將導(dao)體內部的正負電(dian)荷推移到導(dao)體的兩端(duan)，使(shi)其具(ju)有電(dian)位差，電(dian)壓的單位是伏特，簡稱伏，用符號(hao)“V”表示。
二十一、什么是交流電，有何(he)特點(dian)？
答：交流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)指(zhi)電(dian)(dian)(dian)路中電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)的大小和(he)方向不是(shi)恒定(ding)的，而(er)是(shi)交變的，其(qi)特(te)點是(shi)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)的大小和(he)方向都是(shi)隨(sui)時(shi)間作(zuo)作(zuo)周期性的變化(hua)；工礦企業設備所用(yong)的交流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)動機、民(min)用(yong)照明、日常生活的電(dian)(dian)(dian)器設備都是(shi)以交流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)作(zuo)為電(dian)(dian)(dian)源；交流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)有三(san)相和(he)單相之分，其(qi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)380伏和220伏。
二(er)十二(er)、什么是直(zhi)流(liu)電，有何特點？
答：指在任(ren)何不(bu)同時刻，單位時間內(nei)通過導體橫截面的(de)電(dian)(dian)(dian)荷均相等，方向始(shi)終不(bu)變(bian)的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)；其(qi)特點是(shi)電(dian)(dian)(dian)路中的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)(dian)勢(shi)的(de)大小(xiao)和方向都是(shi)不(bu)隨時間變(bian)化而變(bian)化，而是(shi)恒定的(de)；直流(liu)電(dian)(dian)(dian)機、電(dian)(dian)(dian)鍍、電(dian)(dian)(dian)機勵(li)磁、蓄電(dian)(dian)(dian)池充電(dian)(dian)(dian)、半導體電(dian)(dian)(dian)路等。
二十三、什么是歐(ou)姆定(ding)律？
答：歐姆(mu)定律(lv)反映了有(you)穩恒(heng)電(dian)(dian)(dian)流通過的(de)電(dian)(dian)(dian)路中電(dian)(dian)(dian)阻(zu)、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)(dian)流相互關系；歐姆(mu)定律(lv)指出(chu)，通過電(dian)(dian)(dian)路中的(de)電(dian)(dian)(dian)流與電(dian)(dian)(dian)路兩端電(dian)(dian)(dian)壓(ya)成(cheng)正(zheng)比，與電(dian)(dian)(dian)路中的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)成(cheng)反比；即I ＝V \ R。
二(er)十四、什么是電磁感應(ying)？
答：通過閉合回路(lu)的磁通量(liang)發(fa)(fa)生(sheng)(sheng)變化，而在回路(lu)中(zhong)產生(sheng)(sheng)電(dian)(dian)(dian)動勢的現(xian)象稱為電(dian)(dian)(dian)磁感(gan)應；這樣產生(sheng)(sheng)電(dian)(dian)(dian)動勢稱為感(gan)應電(dian)(dian)(dian)動勢，如果(guo)導(dao)體(ti)是個閉合回路(lu)，將有電(dian)(dian)(dian)流(liu)流(liu)過，其電(dian)(dian)(dian)流(liu)稱為感(gan)生(sheng)(sheng)電(dian)(dian)(dian)流(liu)；變壓器(qi)，發(fa)(fa)電(dian)(dian)(dian)機、各(ge)種(zhong)電(dian)(dian)(dian)感(gan)線(xian)圈都是根據電(dian)(dian)(dian)磁感(gan)應原理(li)工作。
二十(shi)五、簡述(shu)超生波(bo)探傷(shang)中，超生波(bo)在介質中傳播時引起(qi)衰減的原因是(shi)什么(me)？
答：1、超聲波的擴(kuo)散傳播距離增加(jia)，波束截(jie)面愈(yu)來愈(yu)大，單位面積上的能量減少。
2、材(cai)質衰減(jian)一(yi)是介質粘滯性引起的吸收(shou)；二是介質界面雜亂反(fan)射(she)引起的散射(she)。
二十(shi)六(liu)、CSK－ⅡA試(shi)塊的主(zhu)要(yao)作用是什么？
答：1、校驗靈敏度；2、校準掃描線(xian)性。
二(er)十七(qi)、影響(xiang)照相靈(ling)敏度的主要因素(su)有哪些？
答：1、X光機(ji)的(de)焦點大小(xiao)；2、透照(zhao)參數選擇的合理性，主(zhu)要(yao)參數有管(guan)電壓、管(guan)電流、曝光時間和焦距(ju)大小；3、增感方式(shi)；4、選用膠片的(de)合理性；5、暗室處(chu)理(li)條件(jian)；6、散射(she)的遮擋等。
二(er)十八、用(yong)(yong)超生波(bo)(bo)對餅形大鍛件探傷，如果用(yong)(yong)底波(bo)(bo)調節(jie)探傷起始靈敏度對工作底面有何要求？
答：1、底(di)面(mian)必須(xu)平(ping)行(xing)于探傷面(mian)；
2、底面必須(xu)平整并(bing)且有一定的光潔度。
二十(shi)九、超聲波探(tan)傷選擇(ze)探(tan)頭K值有哪(na)三條原則？
答(da)：1、聲(sheng)束掃(sao)查到整個(ge)焊縫截面；
2、聲束(shu)盡量垂直于主要缺陷；
3、有足夠的靈敏度。
三十、超聲波探傷(shang)儀主要(yao)有哪幾部分組成(cheng)？
答：主要有電(dian)(dian)(dian)路(lu)同(tong)步電(dian)(dian)(dian)路(lu)、發(fa)電(dian)(dian)(dian)路(lu)、接收電(dian)(dian)(dian)路(lu)、水平掃描電(dian)(dian)(dian)路(lu)、顯示器和電(dian)(dian)(dian)源等部份組成(cheng)。
三十一、發射電路的主要作用是什么？
答：由同步電(dian)路輸(shu)入(ru)的同步脈沖信號，觸發(fa)發(fa)射(she)電(dian)路工作，產生(sheng)高頻電(dian)脈沖信號激勵晶片，產生(sheng)高頻振(zhen)動，并在介質(zhi)內產生(sheng)超聲波。
三(san)十(shi)二、超聲波探傷中，晶(jing)片表面和(he)被(bei)探工件表面之間使(shi)用耦合劑的(de)原(yuan)因是(shi)什么(me)？
答：晶片表(biao)面和被檢(jian)工(gong)件表(biao)面之間(jian)的空氣間(jian)隙，會使超聲波(bo)完(wan)全反射，造成(cheng)探傷結果不準確(que)和無法探傷。
三十三、JB1150－73標準中規(gui)定的判(pan)別缺陷的三種(zhong)情況是什么？
答：1、無底波只(zhi)有缺陷的多次反射波。
2、無底波(bo)(bo)只有多個紊亂(luan)的缺陷(xian)波(bo)(bo)。
3、缺陷波和底波同時(shi)存(cun)在。
三十四(si)、JB1150－73標(biao)準中規定的距(ju)離(li)――波幅曲線的用途是什么？
答：距離――波幅曲線(xian)主要用于(yu)判定缺陷大(da)小，給驗收標準提供依據(ju)它是(shi)由判廢線(xian)、定量線(xian)、測長線(xian)三條曲線(xian)組成；
判(pan)廢(fei)線――判定(ding)缺(que)陷(xian)的(de)*大允許當量；
定量線(xian)――判定缺陷的(de)(de)大小、長(chang)度的(de)(de)控(kong)制線；測長(chang)線――探(tan)傷起始(shi)靈(ling)敏度控制線(xian)。
三(san)十五(wu)、什么是超聲場？
答(da)：充(chong)滿超聲場(chang)能量(liang)的空間叫超聲場(chang)。
三十(shi)六、反映超聲(sheng)場特征(zheng)的主要參數是(shi)什么？
答(da)：反映超聲(sheng)(sheng)場(chang)特征的重要物理量有聲(sheng)(sheng)強、聲(sheng)(sheng)壓(ya)聲(sheng)(sheng)阻抗、聲(sheng)(sheng)束擴散角、近場(chang)和遠場(chang)區(qu)。
三十七、探傷儀*重要(yao)的(de)性(xing)能指標是(shi)什么？
答：分辨(bian)力、動態范圍、水(shui)平線(xian)性、垂(chui)直線(xian)性、靈敏度(du)、信噪比(bi)。
三十八、超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種？
答：1、A型顯示(shi)示(shi)波屏橫(heng)座標代(dai)(dai)表超聲波傳遞播(bo)時間（或距離(li)）縱座標代(dai)(dai)表反射回波的高度；2、B型顯示(shi)示(shi)波屏橫座(zuo)標代表超聲波傳遞播時間（或(huo)距離），這類顯示(shi)得到(dao)的是(shi)探頭掃查深度方向的斷面圖；3、C型(xing)顯(xian)示(shi)儀(yi)器示(shi)波屏代表(biao)被檢工件的(de)投(tou)影(ying)面，這(zhe)種(zhong)顯(xian)示(shi)能(neng)繪出缺(que)陷(xian)的(de)水平投(tou)影(ying)位置(zhi)，但不能(neng)給出缺(que)陷(xian)的(de)埋藏深(shen)度。
三十九、超聲波探頭的主要作用是(shi)什(shen)么？
答：1、探頭(tou)是一個(ge)電(dian)聲換(huan)能器，并能將返回來的(de)聲波(bo)轉換(huan)成電(dian)脈沖；2、控制超(chao)聲波(bo)的(de)傳播方(fang)向和能量集(ji)中(zhong)的(de)程度，當改變探 頭入射 角或改(gai)變(bian)超聲波(bo)的擴散角時，可使聲波(bo)的主要能(neng)量按不同的角度射入介質內部或改(gai)變(bian)聲波(bo)的指向性，提(ti)高分辨(bian)率(lv)；3、實現波型(xing)轉換；4、控制工(gong)作頻率；適(shi)用(yong)于不同的工(gong)作條(tiao)件。
四十、磁(ci)粉探頭的(de)**操作要求？
答：1、當(dang)工件(jian)直接通過(guo)電磁化時，要注意夾頭間(jian)的接觸**、或用(yong)了太大的磁化電流引起打弧閃(shan)光(guang)，應戴(dai)防(fang)護眼鏡，同時不應在(zai)有可能燃(ran)氣體的場合(he)使用(yong)；2、在連續使用濕法磁(ci)懸(xuan)液(ye)時(shi)，皮(pi)膚上可涂防護膏；3、如用(yong)于(yu)水磁懸液，設備(bei) 須(xu)接(jie)地良好(hao)，以防觸電(dian)；4、在用(yong)繭(jian)火磁(ci)粉時(shi)，所用(yong)紫外(wai)線必須經(jing)濾(lv)光(guang)器，以(yi)保護眼睛和(he)皮膚。
四十一、什么是分辨率(lv)？
答(da)：指在(zai)射線底片或熒光屏上能夠識別的圖(tu)像(xiang)之(zhi)間*小距離(li)，通常用(yong)每(mei)1毫米內可辨認線(xian)條(tiao)的(de)數(shu)目表示。
四十二(er)、什么是(shi)幾何不清晰(xi)度(du)？
答：由半影(ying)造成(cheng)的不(bu)清晰度、半影(ying)取決(jue)于焦點尺寸，焦距和工件厚度。
四(si)十三(san)、為什么要加強超波探傷合錄和報告工作？
答(da)：任何工件(jian)(jian)經過超聲波探(tan)傷后，都(dou)必須出據(ju)檢驗報(bao)告(gao)以作為該工作質(zhi)量好壞的(de)憑證，一份正確的(de)探(tan)傷報(bao)告(gao)，除建立可靠的(de)探(tan)測方法和(he)結果(guo)外(wai)，很(hen)大程(cheng)度上取(qu)決于(yu)原始記錄和(he)*后出據(ju)的(de)探(tan)傷報(bao)告(gao)是(shi)非常重要的(de)，如果(guo)我們檢查了工件(jian)(jian)不作記錄也不出報(bao)告(gao)，那(nei)么探(tan)傷檢查就毫(hao)無意義。
四(si)十四(si)、磁(ci)粉探傷中為什么(me)要使用靈敏試片？
答：使用靈敏(min)試(shi)片目的(de)在于檢驗磁(ci)(ci)粉和(he)磁(ci)(ci)懸液的(de)性(xing)能和(he)連續(xu)法中(zhong)確定試(shi)件表面有效磁(ci)(ci)場強(qiang)度和(he)方向以及操作方法是否正確等綜合因(yin)素(su)。
四十五、什(shen)么叫定影作用？
答(da)：顯(xian)影后的(de)膠片在(zai)影液中，分影劑將它上面未經顯(xian)影的(de)溴化銀溶(rong)解掉，同(tong)時保(bao)護住黑色金屬銀粒的(de)過程叫定影作用。
四十六、著色(se)（滲透(tou)）探傷的基本原理是什么？
答(da)：著色（滲(shen)(shen)透(tou)）探傷的(de)(de)基(ji)本(ben)原理(li)是利用毛細現象使滲(shen)(shen)透(tou)液滲(shen)(shen)入缺(que)陷，經清(qing)洗使表(biao)面滲(shen)(shen)透(tou)液支除，而(er)缺(que)陷中(zhong)的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)殘(can)瘤，再利用顯(xian)像劑的(de)(de)毛細管作(zuo)用吸附出(chu)缺(que)陷中(zhong)殘(can)瘤滲(shen)(shen)透(tou)液而(er)達到檢驗(yan)缺(que)陷的(de)(de)目的(de)(de)。
四十七、著色（滲透）探(tan)傷靈敏度(du)的主要因素有哪些(xie)？
答：1、滲(shen)透劑(ji)的性(xing)能的影響；2、乳化劑的乳化效(xiao)果的影響；3、顯(xian)像劑性能(neng)的影響(xiang)；4、操作方法(fa)的影響；5、缺(que)陷本(ben)身性質的影響。
四十八(ba)、在超聲(sheng)波(bo)探傷中把焊縫中的缺陷(xian)分幾類(lei)(lei)？怎樣進行分類(lei)(lei)？
答：在焊縫(feng)超聲波探傷中(zhong)一般把焊縫(feng)中(zhong)的(de)缺(que)陷(xian) 分成三類：點(dian)狀缺(que)陷、線狀缺(que)陷、面狀缺(que)陷。
在(zai)分類中把長(chang)度小于10mm的缺陷叫做點(dian)狀(zhuang)缺陷；一般不(bu)測長，小于10mm的(de)缺(que)陷按5mm計。把長度大于10mm的(de)缺(que)(que)陷叫(jiao)線狀(zhuang)缺(que)(que)陷。把長度大于10mm高(gao)度大于3mm的缺陷叫面(mian)狀缺陷。
四十九、膠片(pian)洗沖程序(xu)如何？
答(da)：顯影(ying)、停影(ying)、定影(ying)、水洗、干燥。
五十、什么叫(jiao)導電性？
答：指金(jin)屬能夠傳(chuan)導電流的性質。
五十一、什么(me)叫磁性？
答：指金(jin)屬具有導磁(ci)的性能；從實用(yong)意義講如：可用(yong)磁(ci)性材(cai)料(liao)(liao)（金(jin)屬）制造長久磁(ci)鐵、電工材(cai)料(liao)(liao)，也可用(yong)磁(ci)性來檢查(cha)磁(ci)性金(jin)屬是(shi)否有裂紋(wen)等
五(wu)十二、什么叫高壓？
答：設(she)備對地電(dian)壓在(zai)250伏(fu)以上者(zhe)稱為(wei)高壓(ya)。
五十(shi)三、什么叫低壓？
答：設備對地電壓在250伏以(yi)下(xia)者稱為低壓。
五十四、什么叫**電壓？
答：人身觸及帶電(dian)(dian)導體時，無生命(ming)危險的電(dian)(dian)壓(ya)，一般都(dou)采用36伏以下的電(dian)壓稱為**電(dian)壓。
凡工作(zuo)場所(suo)潮濕(shi)或在金屬容器(qi)內，隧道(dao)、礦井內用(yong)電器(qi)照明等，均采(cai)用(yong)12伏**電壓。
五十五、超聲波試塊的作用是什么？
答：超聲波(bo)試塊(kuai)的(de)作(zuo)用是校(xiao)驗儀器和探頭的(de)性能(neng)，確定探傷起始靈敏(min)度，校(xiao)準掃描線性。
五十六、什么是斜(xie)探頭折射角(jiao)β的正確值？
答：斜探頭折射角的正確值稱為K值，它等于斜(xie)探頭λ射點(dian)至反射點(dian)的水平距(ju)離和相應(ying)深(shen)度的比值。
五十七(qi)、當局部(bu)無損探(tan)傷(shang)檢查(cha)的(de)焊縫(feng)中發現有不(bu)允(yun)許的(de)缺(que)陷時如何辦(ban)？
答(da)：應在缺陷的(de)延長(chang)方向或可疑部(bu)位作補充射線探傷。補充檢查后對(dui)焊縫質量仍(reng)然有懷疑對(dui)該焊縫應全(quan)部(bu)探傷。
五十八、非缺陷(xian)引起的磁痕有(you)幾(ji)種？
答：1、局部冷(leng) 作硬化(hua)(hua)，由材料導磁(ci)變化(hua)(hua)造成的磁(ci)痕聚集；2、兩種(zhong)不同材料的交界(jie)面處磁粉堆積(ji)；3、碳(tan)化(hua)物層組織(zhi)偏析(xi)；4、零件截面尺(chi)寸的(de)突變處(chu)磁痕；5、磁化電流過高，因(yin)金屬流線造成的磁痕；6、由于工件表面不清潔或(huo)油污(wu)造成的斑點狀磁痕。
五十九、磁粉檢驗(yan)規程包括哪些內容？
答：1、規程(cheng)的適用范(fan)圍；2、磁化方法（包括磁化規范(fan)、工件表(biao)面的準備）；3、磁(ci)粉（包(bao)括(kuo)粒度、顏色、磁(ci)懸(xuan)液(ye)與熒光磁(ci)懸(xuan)液(ye)的配制）。4、試(shi)片；5、技術(shu)操作；6、質(zhi)量評定與檢驗(yan)記錄。
六十、磁粉探傷適用范圍？
答：磁(ci)粉探傷是用來(lai)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)鐵(tie)磁(ci)性材(cai)料表(biao)面和近(jin)表(biao)面缺陷的種檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法。
六(liu)十一、超(chao)聲波探傷儀中同步信(xin)號發生器的(de)主(zhu)要作(zuo)用是(shi)什么？它(ta)主(zhu)要控制哪(na)二部分電路工作(zuo)？
答(da)：同步電(dian)路產生同步脈沖信(xin)號，用(yong)以觸發儀(yi)器各部分(fen)電(dian)路同時協調工作，它(ta)主要控制(zhi)同步發射和同步掃描(miao)二部分(fen)電(dian)路。
六十二、無損(sun)檢測(ce)的目地？
答：1、改(gai)進制(zhi)造工藝；2、降低制造成本；3、提高(gao)產品的可(ke)能性(xing)；4、保證(zheng)設(she)備(bei)的**運(yun)行(xing)。
六(liu)十三、超(chao)聲波焊縫探傷時為缺(que)陷定位儀器時間掃(sao)描線(xian)的調(diao)整有(you)哪幾種方法？
答：有水(shui)平定位(wei)儀(yi)、垂(chui)直定位(wei)、聲程定位(wei)三種(zhong)方(fang)法。
六(liu)十四、試(shi)比較(jiao)干粉法與(yu)濕粉法檢驗(yan)的主要優缺(que)點？
答：干粉法檢驗(yan)對近表面缺陷的(de)(de)檢出能力高，特別(bie)適(shi)于大(da)面積或野外探傷(shang)；濕粉法檢驗(yan)對表面細小(xiao)缺陷檢出能力高，特別(bie)適(shi)于不(bu)規則形(xing)狀(zhuang)的(de)(de)小(xiao)型零件的(de)(de)批量探傷(shang)。