(1)附(fu)(fu)(fu)著物質(zhi)的(de)影響(xiang)。本(ben)儀器對那些妨礙探(tan)頭與(yu)覆蓋層表(biao)面緊密接觸的(de)附(fu)(fu)(fu)著物質(zhi)敏感。因此必須(xu)**附(fu)(fu)(fu)著物質(zhi)，以保證探(tan)頭與(yu)覆蓋層表(biao)面直接接觸。在進行系(xi)統校(xiao)準時(shi)，選(xuan)擇的(de)基體的(de)表(biao)面也必須(xu)是裸露的(de)、光滑的(de)。

(2)強磁場的干(gan)擾。我們曾做過一個簡單實驗(yan)，當儀(yi)器在1萬V左右的電磁場附(fu)近(jin)工(gong)作時，測(ce)量會受到嚴重的干(gan)擾。如果(guo)離電磁場非(fei)常近(jin)時還(huan)有可能會發生死(si)機現(xian)象。

(3)人為因(yin)素。這中情況經常會發(fa)生(sheng)在(zai)新用(yong)(yong)戶(hu)的(de)身(shen)上(shang)。涂層測(ce)厚儀(yi)之所(suo)以能(neng)夠測(ce)量(liang)到(dao)微(wei)米級(ji)就因(yin)為它能(neng)夠采取磁(ci)通量(liang)的(de)微(wei)小變化，并(bing)把(ba)它轉化成為數(shu)字(zi)信(xin)號。在(zai)使(shi)(shi)用(yong)(yong)儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)過(guo)程中如果用(yong)(yong)戶(hu)對本(ben)儀(yi)器(qi)不(bu)熟(shu)悉就可(ke)能(neng)使(shi)(shi)探頭(tou)偏離被測(ce)機體，使(shi)(shi)磁(ci)通量(liang)csgia.net發(fa)生(sheng)變化造成錯誤測(ce)量(liang)。所(suo)以建議用(yong)(yong)戶(hu)朋友初次(ci)使(shi)(shi)用(yong)(yong)本(ben)儀(yi)器(qi)時，要先掌握好測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)。探頭(tou)的(de)放置方(fang)式對測(ce)量(liang)有很大影響，在(zai)測(ce)量(liang)中應使(shi)(shi)探頭(tou)與(yu)試樣表面保(bao)持(chi)垂直。并(bing)且探頭(tou)的(de)放置時間不(bu)宜過(guo)長，以免造成基體本(ben)身(shen)磁(ci)場的(de)干(gan)擾。

(4) 在系統校(xiao)準(zhun)時沒(mei)有選擇合(he)適的基體(ti)。基體(ti)*小平面為7mm，*小厚度為0.2mm，低(di)于此臨界條件測(ce)量是不可(ke)靠的。

(5)儀(yi)器發生故障。此(ci)時可以(yi)和(he)技術人(ren)員交(jiao)流或者返廠維修。